A Si-Ware criou uma tecnologia revolucionária, miniaturizou um espectrômetro de espectro NIR completo em um chip semicondutor que MEMS que inclui os componentes ópticos, mecânicos e elétricos necessários para ser um interferômetro de dois feixes.
Além da ampla faixa espectral, os sensores proporcionam um alto grau de portabilidade, um menor número de superfícies refletoras e fotodetectores, que reduzem significativamente o custo de manutenção e a variabilidade do desempenho entre dispositivos.
Essa tecnologia também torna os instrumentos FT-NIR menos suscetíveis a variações nas condições de operação. Os sistemas FT-NIR possuem mecanismos internos que permitem a detecção de erros nos instrumentos e a correção de alguns desses erros.
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